کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944057 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sheet resistance measurement on AlGaN/GaN wafers and dispersion study
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Sheet resistance measurement on AlGaN/GaN wafers and dispersion study
چکیده انگلیسی

- We study the dispersion in the Rsheet measurement.
- We study the light influence on the Rsheet measurement.
- We deduce a trapping mechanism in the AlGaN/GaN stack.
- We simulate the trapping phenomenon.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 334-337
نویسندگان
, , , , , , , , ,