کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944065 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
First demonstration of device-quality symmetric N-MOS and P-MOS capacitors on p-type and n-type crystalline Ge substrates
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
First demonstration of device-quality symmetric N-MOS and P-MOS capacitors on p-type and n-type crystalline Ge substrates
چکیده انگلیسی

- Ge interface nitride passivation.
- Si passivation layer thickness.
- SiON surface on Si passivation layer.
- Anneal to eliminate Ge-N bonds.
- Symmetric NMOS and CMOS capacitors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 370-373
نویسندگان
, , ,