کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944149 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Identification of intrinsic electron trapping sites in bulk amorphous silica from ab initio calculations
ترجمه فارسی عنوان
شناسایی سایت های گیرنده الکترونی در سیلیس آمورف فله ای از محاسبات اولیه
کلمات کلیدی
نقص سیلیکا، تله الکترونی، قابلیت اطمینان دستگاه، تله های دولت عمیق،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 68-71
نویسندگان
, , , ,