کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944149 | 1450372 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Identification of intrinsic electron trapping sites in bulk amorphous silica from ab initio calculations
ترجمه فارسی عنوان
شناسایی سایت های گیرنده الکترونی در سیلیس آمورف فله ای از محاسبات اولیه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
نقص سیلیکا، تله الکترونی، قابلیت اطمینان دستگاه، تله های دولت عمیق،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 68-71
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 68-71
نویسندگان
Al-Moatasem El-Sayed, Matthew B. Watkins, Alexander L. Shluger, Valeri V. Afanas'ev,