کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944152 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Trap density characterization through low-frequency noise in junctionless transistors
ترجمه فارسی عنوان
خصوصیات تراکم دامنه از طریق نویز فرکانس پایین در ترانزیستورهای بدون اتصال
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
خصوصیات تراکم دامنه از طریق نویز فرکانس پایین در ترانزیستورهای بدون اتصال
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 79-82
نویسندگان
, , , ,