کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944169 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The intrinsic parameter fluctuation on high-κ/metal gate bulk FinFET devices
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
The intrinsic parameter fluctuation on high-κ/metal gate bulk FinFET devices
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 302-305
نویسندگان
, , , , ,