کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944176 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ab initio validation of continuum models parametrizations for ultrascaled SOI interfaces
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ab initio validation of continuum models parametrizations for ultrascaled SOI interfaces
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 286-289
نویسندگان
, , , ,