کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944196 | 1450382 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Contact end resistance test structure applied for nanocontact measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Contact end resistance test structure applied for nanocontact measurements Contact end resistance test structure applied for nanocontact measurements](/preview/png/6944196.png)
چکیده انگلیسی
⺠An accurate method to characterize nanoobject-metal line contacts is presented. ⺠The contact end resistance test structure is adapted from microelectronics. ⺠The measurement of an individual nanocontact is allowed. ⺠Contact resistivity allows prediction of contact resistance for any contact size.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 99, November 2012, Pages 18-22
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 99, November 2012, Pages 18-22
نویسندگان
J. Santander, I. Martin-Fernandez, X. Borrisé, G. Rius, C. Cané,