کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7117855 1461368 2018 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Topographic characterization of thin film field-effect transistors of 2,6-diphenyl anthracene (DPA) by fractal and AFM analysis
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Topographic characterization of thin film field-effect transistors of 2,6-diphenyl anthracene (DPA) by fractal and AFM analysis
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 79, 1 June 2018, Pages 144-152
نویسندگان
, , , ,