کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7118015 1461372 2018 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Substrate temperature dependent structural orientation of EBPVD deposited NiO films and its influence on optical, electrical property
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Substrate temperature dependent structural orientation of EBPVD deposited NiO films and its influence on optical, electrical property
چکیده انگلیسی
Orientation dependent conductivity of NiO thin films by E-beam method [Color online]205
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 75, 1 March 2018, Pages 26-30
نویسندگان
, , ,