کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7151107 1462258 2012 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Parasitic bipolar impact in 32 nm undoped channel Ultra-Thin BOX (UTBOX) and biased Ground Plane FDSOI high-k/metal gate technology
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Parasitic bipolar impact in 32 nm undoped channel Ultra-Thin BOX (UTBOX) and biased Ground Plane FDSOI high-k/metal gate technology
چکیده انگلیسی
► Impact of UTBOX 10 nm w and w/o GP w and w/o Vb on the parasitic bipolar effect. ► Thick oxide, higher Vdd devices are more impacted by the parasitic bipolar effect. ► However breakdown voltage is still far higher than the Vdd of the technology. ► No real impact of GP on the breakdown voltage is seen. ► No real impact of Vb on breakdown voltage evolution (Take care of RBB case).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 32-37
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , , , , , , , ,