کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7151107 | 1462258 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Parasitic bipolar impact in 32Â nm undoped channel Ultra-Thin BOX (UTBOX) and biased Ground Plane FDSOI high-k/metal gate technology
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Impact of UTBOX 10 nm w and w/o GP w and w/o Vb on the parasitic bipolar effect. ⺠Thick oxide, higher Vdd devices are more impacted by the parasitic bipolar effect. ⺠However breakdown voltage is still far higher than the Vdd of the technology. ⺠No real impact of GP on the breakdown voltage is seen. ⺠No real impact of Vb on breakdown voltage evolution (Take care of RBB case).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 32-37
Journal: Solid-State Electronics - Volume 74, August 2012, Pages 32-37
نویسندگان
C. Fenouillet-Beranger, P. Perreau, P. Boulenc, L. Tosti, S. Barnola, F. Andrieu, O. Weber, R. Beneyton, C. Perrot, C. de Buttet, F. Abbate, Y. Campidelli, L. Pinzelli, P. Gouraud, A. Margain, S. Peru, K.K. Bourdelle, B.Y. Nguyen, F. Boeuf,