کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7151235 | 1462265 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Half-terahertz silicon/germanium heterojunction bipolar technologies: A TCAD based device architecture exploration
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Half-terahertz silicon/germanium heterojunction bipolar technologies: A TCAD based device architecture exploration Half-terahertz silicon/germanium heterojunction bipolar technologies: A TCAD based device architecture exploration](/preview/png/7151235.png)
چکیده انگلیسی
A 2D TCAD based device architecture exploration of SiGe:C NPN HBTs is presented. Two novel and one conventional self-aligned architectures are explored by process and device simulation. All these three architectures show their capability of achieving maximum oscillation frequency (fmax) of 500Â GHz for scaled layout rules.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volumes 65â66, NovemberâDecember 2011, Pages 72-80
Journal: Solid-State Electronics - Volumes 65â66, NovemberâDecember 2011, Pages 72-80
نویسندگان
Arturo Sibaja-Hernandez, Shuzhen You, Stefaan Van Huylenbroeck, Rafael Venegas, Kristin De Meyer, Stefaan Decoutere,