کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
726912 | 892657 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of small holes on monocrystalline silicon cut by WEDM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We studied and analyzed the phenomenon of small holes on the surface of monocrystalline silicon when cut by wire cut EDM. When power density of plasma in the discharge channel reaches a certain value, gasification holes will appear. The influence of small holes on heat transfer process when monocrystalline silicon machined by WEDM was also analyzed, results show that these small holes make the surface heat source change towards body heat source, so thermal stress damage will happen and crack propagation depth increases rapidly when monocrystalline silicon machined by EDM.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 16, Issue 2, April 2013, Pages 385–389
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 16, Issue 2, April 2013, Pages 385–389
نویسندگان
Pan Huijun, Liu Zhidong, Gao Lian, Qiu Mingbo, Tian Zongjun,