کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
747465 | 894524 | 2009 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Folded fully depleted FET using Silicon-On-Nothing technology as a highly W-scaled planar solution
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Folded fully depleted FET using Silicon-On-Nothing technology as a highly W-scaled planar solution Folded fully depleted FET using Silicon-On-Nothing technology as a highly W-scaled planar solution](/preview/png/747465.png)
چکیده انگلیسی
This work proposes a planar fully depleted “folded” technology integrated on bulk substrate as an innovative solution for upcoming low power nodes to enhance drive current on narrow devices. We report a detailed fabrication method, combining advanced selective epitaxy faceting and SON (Silicon-On-Nothing) process, to provide ultra thin body and buried oxide (UTB2) devices with improved drive current Ion for a given designed footprint Wdesign when scaling the device width. We compare the fabrication and electrical behavior between 〈1 1 0〉 channel, i.e. 0°-rotated wafer, and 〈1 0 0〉 channel, i.e. 45°-rotated wafer, for the same (1 0 0) surface orientation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 53, Issue 7, July 2009, Pages 735–740
Journal: Solid-State Electronics - Volume 53, Issue 7, July 2009, Pages 735–740
نویسندگان
G. Bidal, N. Loubet, C. Fenouillet-Beranger, S. Denorme, P. Perreau, D. Fleury, L. Clement, C. Laviron, F. Leverd, P. Gouraud, S. Barnola, R. Beneyton, A. Torres, C. Duluard, J.D. Chapon, B. Orlando, T. Salvetat, M. Grosjean, E. Deloffre, R. Pantel,