کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
748591 | 1462256 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of self-heating in Si-Ge HBTs with pulse, DC and AC measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠An accurate technique for self-heating effect characterization. ⺠A complete calibration has been performed in electro-thermal compact modeling. ⺠The extracted thermal parameters are verified through two other methods.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 76, October 2012, Pages 13-18
Journal: Solid-State Electronics - Volume 76, October 2012, Pages 13-18
نویسندگان
Amit Kumar Sahoo, Sébastien Fregonese, Mario WeiÃ, Brice Grandchamp, Nathalie Malbert, Thomas Zimmer,