کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7673751 | 1495654 | 2018 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Re-installation of the total reflection X-ray fluorescence spectrometer ATOMIKA 8300W for Si wafer surface inspection at Atominstitut
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Re-installation of the total reflection X-ray fluorescence spectrometer ATOMIKA 8300W for Si wafer surface inspection at Atominstitut Re-installation of the total reflection X-ray fluorescence spectrometer ATOMIKA 8300W for Si wafer surface inspection at Atominstitut](/preview/png/7673751.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 149, November 2018, Pages 163-166
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 149, November 2018, Pages 163-166
نویسندگان
A. Mejstrik, P. Kregsamer, M. Fugger, C. Streli,