کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7997661 | 1516221 | 2016 | 30 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Corroboration of Raman and AFM mapping to study Si nanocrystals embedded in SiO2
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فلزات و آلیاژها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
a) Schematic showing the expected stacking of Si NCs obtained from Raman mapping, performed by changing focal spot along the depth, b) top, c) middle and d) bottom region of the cluster.270
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 672, 5 July 2016, Pages 403-412
Journal: Journal of Alloys and Compounds - Volume 672, 5 July 2016, Pages 403-412
نویسندگان
Ekta Rani, Alka A. Ingale, A. Chaturvedi, M.P. Joshi, L.M. Kukreja,