کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8148590 | 1524339 | 2018 | 18 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic structures of Ruddlesden-Popper faults in LaCoO3/SrRuO3 multilayer thin films induced by epitaxial strain
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this paper, scanning transmission electron microscopy is used to study the microstructures of the defects in LaCoO3/SrRuO3 multilayer films grown on the SrTiO3 substrates, and these films have different thickness of SrRuO3 (SRO) layers. Several types of Ruddlesden-Popper (R.P.) faults at an atomic level are found, and these chemical composition fluctuations in the growth process are induced by strain fields originating from the film-film and film-substrate lattice mismatches. Furthermore, we propose four types of structural models based on the atomic arrangements of the R.P. planar faults, which severely affect the functional properties of the films.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 490, 15 May 2018, Pages 110-115
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 490, 15 May 2018, Pages 110-115
نویسندگان
Wei Wang, Hui Zhang, Xi Shen, Xiangxiang Guan, Yuan Yao, Yanguo Wang, Jirong Sun, Richeng Yu,