کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8919073 1642869 2018 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Photoacoustic spectroscopy analysis of thin semiconductor samples
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل طیف سنجی عکس اتمی نمونه های نیمه هادی نازک
کلمات کلیدی
طیف سنجی فوتوترمال، عکس آکوستیک، طیف جذب نوری طیف، فیلم نیمه هادی نازک،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش مقاله
تجزیه و تحلیل طیف سنجی عکس اتمی نمونه های نیمه هادی نازک
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Opto-Electronics Review - Volume 26, Issue 3, September 2018, Pages 217-222
نویسندگان
, ,