کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9594953 | 1507965 | 2005 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced surface sensitivity in AES relative to XPS observed in free argon clusters
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Photoelectron emission - انتشار فوتوالکتریکAuger ejection - تخلیه آگراSurface sensitivity - حساسیت سطحEffective attenuation length - طول موج مؤثرAuger electron spectroscopy - طیف سنج الکترونی آگرphotoelectron spectroscopy - طیف سنجی فوتوالکتریکSynchrotron radiation photoelectron spectroscopy - طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The surface-to-bulk intensity ratio in Auger electron spectra has been studied in comparison with core-level photoelectron spectra using free argon clusters of sizes ranging over two orders of magnitude. Enhanced surface sensitivity is observed in L2,3M2,3M2,3 Auger electron spectra compared to 2p photoelectron spectra where electrons of similar kinetic energies were recorded. This is discussed in terms of the effective attenuation length of the electrons.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 594, Issues 1â3, 1 December 2005, Pages 12-19
Journal: Surface Science - Volume 594, Issues 1â3, 1 December 2005, Pages 12-19
نویسندگان
Marcus Lundwall, Maxim Tchaplyguine, Gunnar Ãhrwall, Andreas Lindblad, Sergey Peredkov, Torbjörn Rander, Svante Svensson, Olle Björneholm,