طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron

در این صفحه تعداد 76 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Pyrite; Oxidation; Oxygen; Valence band; Surface chemical reactions; Adsorption;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Ab initio calculations; Scanning-tunneling microscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Surface reconstruction; Gallium-arsenide (GaAs); Indium-arsenide (InAs); Single crystal surfaces;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Chemical vapor deposition; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; X-ray absorption spectroscopy; Scanning tunneling microscopy; Growth; Titanium dioxide; Low index single crystal surfaces; Crystalline-amorphous interfaces;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Density functional calculations; Models of surface chemical reactions; Catalysis; Surface chemical reaction; Ruthenium, ruthenium dioxide; Ammonia, ammonia oxidation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Alkali halides; Silicon vgermanium; Scanning tunneling microscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Epitaxy; Surface relaxation and reconstruction; Thin film structures; Semiconductor - insulator interfaces;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; High k dielectrics; Zirconium dioxide; Silicon; Chemical vapor deposition; Semiconductor–insulator interfaces; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Scanning tunnelling microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Scanning tunneling microscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Self-assembly; Silane;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Computer simulations; Atomic force microscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Reflection spectroscopy; Electrochemical methods; Etching; Physical adsorption; Surface roughening; Silicon; Silicon oxides; Solid-liquid interfaces; Semico
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Single crystal surfaces; Surface relaxation and reconstruction; Scanning tunneling microscopy and spectroscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Germanium; Antimony;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Atomic force microscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Reflection spectroscopy; Dielectric phenomena; Etching; Surface structure, morphology, roughness and topography; Silicon; Silicon oxides;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; Silicon; Organo-functionalization of surfaces; NEXAFS; Auger spectroscopy; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; Excitons and excited surface states; Femtosecond electron transfer; Density functional calculations;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکتریک تابش Synchrotron; High dielectrics; Zirconium dioxide; Silicon; Chemical vapor deposition; Semiconductor–insulator interfaces; Synchrotron radiation photoelectron spectroscopy; X-ray absorption spectroscopy;