کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9699189 | 1461440 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Noise behavior of SiGe n-MODFETS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Noise behavior of SiGe n-MODFETS Noise behavior of SiGe n-MODFETS](/preview/png/9699189.png)
چکیده انگلیسی
This paper presents an investigation of the low-frequency noise properties of SiGe-based on n-MODFETs through the characterization of both the gate current noise and the drain current noise, including their correlation. Measurements vs. bias and gate geometry have shown that this noise is generated through mobility fluctuations or carrier diffusion at the gate terminal when carrier number fluctuations are involved for drain current fluctuations. Residual phase noise measurements have shown that the up-conversion effect mainly occurs on the drain current noise.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 8, Issues 1â3, FebruaryâJune 2005, Pages 383-388
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 8, Issues 1â3, FebruaryâJune 2005, Pages 383-388
نویسندگان
A. Rennane, L. Bary, G. Cibiel, O. Llopis, T. Hackbarth, J. Graffeuil, R. Plana,