کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9829507 | 1524493 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Selective etching and TEM study of inversion domains in Mg-doped GaN epitaxial layers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Two different etching techniques were used for the investigation of polarity inversion in the magnesium-doped MOVPE GaN layers deposited on GaN pressure grown substrates. Etching in KOH solution at 100 °C and in molten bases at 450 °C allowed us to determine precisely the regions of different polarity. Chemically active N-polar GaN areas were removed leaving Ga-polar material intact. The results were confirmed by the TEM examination.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 282, Issues 1â2, 15 August 2005, Pages 45-48
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 282, Issues 1â2, 15 August 2005, Pages 45-48
نویسندگان
G. Kamler, J. Borysiuk, J.L. Weyher, R. Czernecki, M. LeszczyÅski, I. Grzegory, S. Porowski,