کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9830336 | 1524507 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analytical TEM characterization of the interfacial layer between ALD HfO2 film and silicon substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
High-resolution transmission electron microscopy and electron energy loss spectrometry were used to characterize the interfacial layer formed between the silicon substrate and the HfO2 thin film grown by atomic layer deposition (ALD) from HfI4 and O2. The interfacial layer was amorphous and contained SiO2 mixed with a small amount of elemental Si on the atomic level. The interfacial silicon oxide layer was mainly deposited at the beginning of the ALD process since its thickness was insensitive to the number of applied ALD cycles when increased from 50 to 1000.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 273, Issues 3â4, 3 January 2005, Pages 510-514
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 273, Issues 3â4, 3 January 2005, Pages 510-514
نویسندگان
J. Lu, J. Aarik, J. Sundqvist, K. Kukli, A. HÃ¥rsta, J.-O. Carlsson,