کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9837890 | 1525285 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflection mode X-ray absorption spectroscopy: new applications in surface science research
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Reflection mode grazing incidence X-ray absorption spectroscopy (GIXAFS) was applied for the in situ investigation of solid/liquid interfaces. Results obtained during the active dissolution of metals are presented. In the case of silver in neutral or weakly acidic Na2SO4 solutions (pH 6.5), the formation of an Ag-O species at the surface of the Ag-electrode can be proven, i.e. the active dissolution proceeds via a non-protecting surface layer, the thickness of which was estimated to be about 5Â nm. The atomic short-range order of this surface layer is different from polycrystalline silver oxides (Ag2O and AgO) and relates to a more disordered or amorphous Ag1+ oxide.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 357, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 213-217
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 357, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 213-217
نویسندگان
Dirk Lützenkirchen-Hecht, Ronald Frahm,