| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 9837890 | 1525285 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Reflection mode X-ray absorption spectroscopy: new applications in surface science research
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													فیزیک و نجوم
													فیزیک ماده چگال
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												Reflection mode grazing incidence X-ray absorption spectroscopy (GIXAFS) was applied for the in situ investigation of solid/liquid interfaces. Results obtained during the active dissolution of metals are presented. In the case of silver in neutral or weakly acidic Na2SO4 solutions (pH 6.5), the formation of an Ag-O species at the surface of the Ag-electrode can be proven, i.e. the active dissolution proceeds via a non-protecting surface layer, the thickness of which was estimated to be about 5 nm. The atomic short-range order of this surface layer is different from polycrystalline silver oxides (Ag2O and AgO) and relates to a more disordered or amorphous Ag1+ oxide.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 357, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 213-217
											Journal: Physica B: Condensed Matter - Volume 357, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 213-217
نویسندگان
												Dirk Lützenkirchen-Hecht, Ronald Frahm,