دانلود مقالات ISI درباره C. طیف سنجی فوتوالکترون + ترجمه فارسی
C. Photoelectron Spectroscopy
C. طیف سنجی فوتوالکترون
در این صفحه تعداد 322 مقاله تخصصی درباره C. طیف سنجی فوتوالکترون که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید. در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI C. طیف سنجی فوتوالکترون (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند. در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Nanostructures; A. Composites; A. Magnetic materials; C. X-ray diffraction; C. Photoelectron spectroscopy; D. Catalytic properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Alloys; A. Nanostructures; B. Chemical synthesis; C. Photoelectron spectroscopy; D. Catalytic properties; D. Surface properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Thin films; A. Magnetic materials; B. Laser deposition; C. X-ray diffraction; C. Photoelectron spectroscopy; D. Electrical properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; C. Electron energy loss spectroscopy (EELS); C. Photoelectron spectroscopy; C. XAFS; D. Electrochemical properties; D. Electronic structure;
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Thin films; B. Plasma deposition; C. Photoelectron spectroscopy; D. Electochemical properties; D. Surface properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; C. Photoelectron Spectroscopy; C. Scanning tunnelling microscopy (STM); D. Thermal conductivity; D. Transport properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Superconductors; C. Photoelectron spectroscopy; D. Electronic structure; D. Superconductivity; 74.25.Jb; 74.72.Hs; 79.60.âi; 71.15.Mb;
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; A. Nanostructures; C. Electron microscopy; C. Photoelectron spectroscopy; C. X-ray diffraction; D. Surface properties
Keywords: C. طیف سنجی فوتوالکترون; 81.16 Be; 61.46 +w; 68.65 âk; 68.65 Hb; 82.80 Pv; A. Nanostructures; A. Oxides; A. Surfaces; C. Photoelectron spectroscopy;