![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Seeing the atoms more clearly: STEM imaging from the Crewe era to today
Keywords: طیف نگاری الکترونی افت انرژی; Scanning transmission electron microscopy; Electron energy loss spectroscopy; Aberration correction; Z-contrast; Atomic resolution