![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Potentiality of healing techniques in hot-carrier damaged 28Â nm FDSOI CMOS nodes
Keywords: حامل های گرم; Hot-carriers; Healing techniques; Charge neutralization; FDSOI; Forward back bias compensation;