دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس) + ترجمه فارسی

Tracer study of oxygen and hydrogen uptake by Mg alloys in air with water vapor

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Magnesium alloys; Oxidation; Hydrogen diffusion; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Water vapor

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Emission of secondary ions after grazing impact of keV ions on solid surfaces

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Grazing ion surface collisions; Ultrathin film; Semiconductor surface; Sputtering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

The effects for the deposition temperature onto the structural, compositional and optical properties of pulsed laser ablated Cu2ZnSnS4 thin films grown on soda lime glass substrates

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Cu2ZnSnS4 (CZTS); Thin film solar cells; Pulsed laser deposition (PLD); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Investigation of Kelvin probe force microscopy efficiency for the detection of hydrogen ingress by cathodic charging in an aluminium alloy

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Kelvin probe force microscopy (KFM); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Hydrogen diffusion; Aluminum alloys

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Structural and compositional homogeneity of InAlN epitaxial layers nearly lattice-matched to GaN

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Compound semiconductor (InAlN); Lattice-matched; Elastic behavior; Transmission electron microscopy (TEM); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Optical and surface analysis of lithium incorporated GdVO4:Eu3+ phosphor powders

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); 78.20.−e; 78.55.−mLi-doped GdVO4:Eu3+; Photoluminescence (PL); Oxygen vacancy; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Multi-scale characterization of stress corrosion cracking of cold-worked stainless steels and the influence of Cr content

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Cold working; Austenitic steels; Corrosion; Analytical electron microscopy; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 21 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Poly-Si films with long carrier lifetime prepared by rapid thermal annealing of Cat-CVD amorphous silicon thin films

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Crystallization; Raman scattering; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Silicon; Solar cells; Microcrystalline; Minority carrier lifetime; Flash lamp annealing

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Thin film aluminum–gold interface interactions

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Thin films; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Intermetallic compounds

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Changes in surface stress, morphology and chemical composition of silica and silicon nitride surfaces during the etching by gaseous HF acid

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Sensor; Cantilever; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Hydrofluoric acid (HF); Silicon; Atomic force microscope (AFM);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

A grain boundary characterization study of boron segregation and carbide precipitation in alloy 304 austenitic stainless steel

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Grain boundary segregation; Carbide precipitation; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Stainless steels; Orientation imaging microscopy (OIM)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Analysis of the accuracy of several methods for determining the concentration of 11B+ implanted silicon

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); 61.18.Bn; 61.72.Ss; 68.49.SfElastic recoil detection analysis (ERDA); Nuclear reaction analysis (NRA); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Boron fluence/profile measurements

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Improvement of hydrophobic properties of polymer surfaces by plasma source ion implantation

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Plasma source ion implantation; Photoelectron spectroscopy (XPS); Secondary ion mass spectroscopy (SIMS); Hydrophobic properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Role of Al2O3 layer in oxidation resistance of Cu–Al dilute alloys pre-annealed in H2 atmospheres

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه (سیمس); Cu–Al alloy; Oxidation resistance; Oxidation kinetic; Diffusion; Surface Al2O3 layer; Secondary ion mass spectroscopy (SIMS)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه