Keywords: ساختار تست; Fast wafer level reliability; Oxide breakdown; Negative bias temperature instability; Electromigration; Ring oscilator; Test structures; Plasma induced charging damage; Hot carrier stress; Well charging; Reliability monitoring;
مقالات ISI ساختار تست (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Poly-Si heaters for ultra-fast local temperature control of on-wafer test structures
Keywords: ساختار تست; Wafer level reliability; Test structures; Poly-Si heaters; Local temperature control
Characterization of irradiated test structures for the CMS tracker upgrade
Keywords: ساختار تست; Silicon stripsensor; Test structures; Irradiation; CMS; Tracker;
Future silicon sensors for the CMS Tracker Upgrade
Keywords: ساختار تست; CMS Tracker Upgrade; Silicon sensors; Process quality; Irradiation; Test structures
Impact of the layout on the electrical characteristics of double-sided silicon 3D sensors fabricated at FBK
Keywords: ساختار تست; 3D detectors; Silicon detectors; Numerical simulations; TCAD; Electrical characterization; Test structures;
R&D on novel sensor routing and test structure development
Keywords: ساختار تست; Silicon strip sensor; Test structures; Quality assurance; Integrated pitch adapter
Campaign to identify the future CMS tracker baseline
Keywords: ساختار تست; Silicon strip sensor; Test structures; Integrated pitch adapter
Internal stress relaxation based method for elastic stiffness characterization of very thin films
Keywords: ساختار تست; Young's modulus; Thin film; Silicon nitride; Test structures; Cantilevers; Released beams; Nanoindentation