![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10Â nm triple-gate FinFETs: Part II: Measurements and results
Keywords: دروازه سه گانه; Triple-gate; FinFET; Low frequency noise; 1/f noise; Generation recombination; Traps;