کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10668700 | 1008385 | 2010 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Residual stress evaluation at the micrometer scale: Analysis of thin coatings by FIB milling and digital image correlation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Ring-core procedure was proposed and validated for residual stress analysis at the micro-scale. ⺠Complete stress relief was demonstrated when trench depth approaches stub diameter. ⺠New method minimises artifacts due to FIB milling process, improving accuracy and resolution. ⺠Proposed technique was validated for the important practical case of thin coatings. ⺠Method can be generalized, e.g. to include stress depth profiling and non-equibiaxial stress.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 205, Issue 7, 25 December 2010, Pages 2393-2403
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 205, Issue 7, 25 December 2010, Pages 2393-2403
نویسندگان
Alexander M. Korsunsky, Marco Sebastiani, Edoardo Bemporad,