کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10707230 | 1023644 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low interfacial density of states around midgap in MBE-Ga2O3(Gd2O3)/In0.2Ga0.8As
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Systematic temperature-dependent capacitance-voltage and conductance measurements were used to study the electrical characteristics of molecular beam epitaxy (MBE) and atomic layer deposition (ALD) oxides on In0.2Ga0.8As/GaAs. The distribution of interfacial density of states (Dit) within the band gap of In0.2Ga0.8As was deduced with the conductance method. The MBE-grown Ga2O3(Gd2O3)/In0.2Ga0.8As, with an excellent tailored interface, has given Dit values of â¼5Ã1011 eVâ1 cmâ2 above, â¼2Ã1012 eVâ1 cmâ2 below, and 1-7Ã1012 eVâ1 cmâ2 around the mid-gap region (0.5-0.7 eV above valence band maximum (EV)); the high Dit value near the mid-gap, extracted at 100 and 150 °C, may be related to the temperature effect, which tends to induce more trap excitations. In contrast, the ALD-Al2O3/In0.2Ga0.8As has yielded higher Dit values of>1013 eVâ1 cmâ2 around the mid-gap region.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 323, Issue 1, 15 May 2011, Pages 99-102
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 323, Issue 1, 15 May 2011, Pages 99-102
نویسندگان
C.A. Lin, H.C. Chiu, T.H. Chiang, Y.C. Chang, T.D. Lin, J. Kwo, W.-E. Wang, J. Dekoster, M. Heyns, M. Hong,