کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1241063 | 969162 | 2008 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analytical atomic spectrometry and imaging: Looking backward from 2020 to 1975
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Analytical atomic spectrometry and imaging: Looking backward from 2020 to 1975 Analytical atomic spectrometry and imaging: Looking backward from 2020 to 1975](/preview/png/1241063.png)
چکیده انگلیسی
Some general aspects of the evolution of atomic spectrometry for chemical analysis over the period 1975 to now are described. Performance parameters such as detection limits and spatial analytical potential (lateral and depth resolution) are compared with the evolution of integrated circuit technology as described in Moore's Law. A few general trends of future development for the coming decade are postulated. Attention will be focused on analysis and imaging with beam techniques, especially secondary ion mass spectrometry and X-ray techniques on the basis of excitation with synchrotron radiation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 63, Issue 7, July 2008, Pages 738-745
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 63, Issue 7, July 2008, Pages 738-745
نویسندگان
F. Adams,