کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1241445 | 969194 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Determination of X-ray compression efficiency of a thin film X-ray waveguide structure using marker layer fluorescence
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Determination of X-ray compression efficiency of a thin film X-ray waveguide structure using marker layer fluorescence Determination of X-ray compression efficiency of a thin film X-ray waveguide structure using marker layer fluorescence](/preview/png/1241445.png)
چکیده انگلیسی
We demonstrate that a thin marker layer, sandwiched in the guiding medium of a thin film planner X-ray waveguide structure, can be used to determine X-ray compression efficiency for a particular excitation mode. It can also be used in evaluating the transmission efficiency of waveguide structure and for the determination of X-ray intensities reaching the waveguide exit. This approach has been applied for determining X-ray compression and transmission efficiency of a Mo/B4C/Mo based X-ray waveguide structure, by inserting a thin Fe marker layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 62, Issue 2, February 2007, Pages 137-144
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 62, Issue 2, February 2007, Pages 137-144
نویسندگان
M.K. Tiwari, M. Nayak, G.S. Lodha, R.V. Nandedkar,