| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 1555002 | 1513252 | 2008 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Raman measurements of Ge1−xMnx epilayers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Raman scattering has been used to characterize Ge1−xMnx (0.01
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 44, Issues 4–5, October–November 2008, Pages 315–322
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 44, Issues 4–5, October–November 2008, Pages 315–322
نویسندگان
L.-L. Tay, N.L. Rowell, J.-P. Ayoub, I. Berbezier, L. Morresi, N. Pinto,