کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1555161 | 1513254 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The annealing effect on structural and optical properties of ZnO thin films produced by r.f. sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this work, a study of the structure and optical properties of undoped ZnO thin films produced by r.f. magnetron sputtering technique as a function of the growth parameters is reported. Modification under annealing conditions is also analysed. Raman spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, X-ray diffraction and optical transmittance have been used. From the position of the (002) X-ray diffraction peak and the E2 (high) mode detected in Raman spectra, the residual stress both in the as-grown and in the annealed samples has been estimated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 42, Issues 1–6, July–December 2007, Pages 265–269
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 42, Issues 1–6, July–December 2007, Pages 265–269
نویسندگان
A.G. Rolo, J. Ayres de Campos, T. Viseu, T. de Lacerda-Arôso, M.F. Cerqueira,