Anisotropic phase field solution for morphological evolution and migration of inclusions in piezoelectric films

بر اساس یک مدل میدان فازی بی نظیر، تکامل مورفولوژیکی و مهاجرت ورودی ها در فیلم های پیزوالکتریک تحت بارهای مکانیکی و الکتریکی بررسی می شود. فیلد پارامتر سفارش به منظور مشخص کردن تکامل درج در فیلم پیزوالکتریک معرفی شده است، جایی که تکامل کانتور صفر پارامتر نظم در لایه رابط فاز بین فیلم و ماتریس شامل تغییر مورفولوژیکی و مهاجرت شامل محرک توسط بارهای مکانیکی و الکتریکی . نتایج نشان می دهد که تکامل مورفولوژی و مهاجرت درگیر شدن در فیلم پیزوالکتریک به طور عمده ناشی از گرادیان استرس طبیعی در لایه رابط فاز بین ورودی ها و فیلم پیزوالکتریک است و وقتی که فیلم پیزوالکتریک در یک مقاومت پایین تر ظاهر می شود، نیروی اضافی ناشی از الکترون الکترون باد) استفاده از فیلم پیزوالکتریک را ترویج مهاجرت از ورود به سمت جهت بالقوه بالقوه الکتریکی. رفتار نفوذ انحصاری از لایه رابط باعث ایجاد تقارن مورفولوژیکی ورودی به فیلم پیزوالکتریک تحت بارهای مختلف می شود.