کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1791751 1023620 2012 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the role of thermal gradient related stress in intrinsic defect formation during single crystal silicon growth from the melt
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
On the role of thermal gradient related stress in intrinsic defect formation during single crystal silicon growth from the melt
چکیده انگلیسی
► Impact of thermal stress on intrinsic defect formation during crystal growth. ► Pulling speed increase leads to thermal gradient decrease at melt/solid interface. ► Critical pulling speed is inversely proportional to the crystal radius.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 352, Issue 1, 1 August 2012, Pages 21-26
نویسندگان
,