کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1794983 | 1023711 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural characterization of TiO2 films grown on LaAlO3 and SrTiO3 substrates using reactive molecular beam epitaxy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have studied the microstructure of TiO2 films, grown by reactive molecular beam epitaxy (MBE) on LaAlO3 (LAO) and SrTiO3 (STO) substrates, using a combination of transmission electron microscopy (TEM) and electron energy loss spectrometry (EELS). TiO2 films grew epitaxially in the anatase polymorph and exhibited the crystallographic orientation relation of (001)(010)TiO2||(001)(010)substrate. High-resolution TEM and EELS studies indicated the presence of a cubic TiOx phase at the TiO2/STO interface. Interfacial TiOx phases were eliminated and a sharp TiO2/STO interface was achieved by growing the TiO2 film on a heteroepitaxial STO buffer layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 310, Issue 3, 1 February 2008, Pages 545–550
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 310, Issue 3, 1 February 2008, Pages 545–550
نویسندگان
X. Weng, P. Fisher, M. Skowronski, P.A. Salvador, O. Maksimov,