کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
2503254 | 1557424 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Surface analysis for compositional, chemical and structural imaging in pharmaceutics with mass spectrometry: A ToF-SIMS perspective
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
علوم پزشکی و سلامت
داروسازی، سم شناسی و علوم دارویی
علوم دارویی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We review the application of time-of-flight secondary-ion mass spectrometry (ToF-SIMS) for the surface chemical identification and distribution analysis (mapping) of pharmaceutically relevant materials. Specifically we explore the characterization of both solid state pharmaceuticals and bio-pharmaceuticals by ToF-SIMS; highlighting specific case studies concerning the distribution and stability of pharmaceutical actives within solid matrices, the face-specific properties of pharmaceutical crystals and elucidation of the structure/conformation of adsorbed proteins. Finally, potential future applications of ToF-SIMS in pharmaceutics are detailed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: International Journal of Pharmaceutics - Volume 417, Issues 1–2, 30 September 2011, Pages 61–69
Journal: International Journal of Pharmaceutics - Volume 417, Issues 1–2, 30 September 2011, Pages 61–69
نویسندگان
Timothy J. Barnes, Ivan M. Kempson, Clive A. Prestidge,