کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
470863 | 698569 | 2015 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Arbitrary decay rates of energy for a von Karman equation of memory type
ترجمه فارسی عنوان
ضریب پوسیدگی خودسرانه انرژی برای یک معادله فون کرمان نوع حافظه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
نرخ پوسیدگی خودسرانه، معادله فون کارمن، حافظه
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
علوم کامپیوتر (عمومی)
چکیده انگلیسی
In this paper we consider a von Karman equation of memory type utt+Δ2u−∫0tg(t−s)Δ2u(s)ds=[u,F(u)] with clamped boundary condition. We establish a decay result of solutions without imposing the usual relation between a kernel function gg and its derivative. This result generalizes earlier ones to an arbitrary rate of decay, which is not necessarily of an exponential or polynomial decay.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Computers & Mathematics with Applications - Volume 70, Issue 8, October 2015, Pages 1878–1886
Journal: Computers & Mathematics with Applications - Volume 70, Issue 8, October 2015, Pages 1878–1886
نویسندگان
Sun-Hye Park,