کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970801 | 1450303 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Assessing the forming temperature role on amorphous and polycrystalline HfO2-based 4Â kbit RRAM arrays performance
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 1-4
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 1-4
نویسندگان
E. Perez, L. Bondesan, A. Grossi, C. Zambelli, P. Olivo, Ch. Wenger,