کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970803 | 1450303 | 2017 | 25 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spatial analysis of failure sites in large area MIM capacitors using wavelets
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 10-16
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 10-16
نویسندگان
J. Muñoz-Gorriz, S. Monaghan, K. Cherkaoui, J. Suñé, P.K. Hurley, E. Miranda,