دانلود رایگان مقاله ISI : تجزیه و تحلیل اثر تعصب سوبسترا بر روی واسط های تجمع رابط در ترانزیستورهای نانوسیم اتصال بدون اتصال از طریق ویژگی های نویز فرکانس پایین

Analysis of the substrate bias effect on the interface trapped charges in junctionless nanowire transistors through low-frequency noise characterization

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 17-20

Rodrigo Trevisoli Doria, Renan Trevisoli, Michelly de Souza, Sylvain Barraud, Maud Vinet, Olivier Faynot, Marcelo Antonio Pavanello,