کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4970818 1450303 2017 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Potential changes and chemical bonding features for Si-MOS structure as evaluated from HAXPES analysis
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Potential changes and chemical bonding features for Si-MOS structure as evaluated from HAXPES analysis
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 80-84
نویسندگان
, , , , , ,