![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Potential changes and chemical bonding features for Si-MOS structure as evaluated from HAXPES analysis
Keywords: ساختار MOS; Hard X-ray photo-emission spectroscopy (HAXPES); MOS structure; Chemical bonding features; Potential distribution;