کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396008 1505735 2014 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Applications of X-ray fluorescence holography to determine local lattice distortions
ترجمه فارسی عنوان
استفاده از هولوگرافی فلورسنت اشعه ایکس برای تعیین اعوجاج شبکه محلی
کلمات کلیدی
هولوگرافی فلورسنت اشعه ایکس، پراکندگی اشعه ایکس، کریستال تک ناامیدی، ساختار متوسط ​​محدوده،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
X-ray fluorescence holography (XFH) is a method for investigating atomic order up to the medium ranges, and can provide 3D atomic images around specific elements within a radius of nm order. In addition to these characteristics, XFH is sensitive to positional fluctuations of atoms, and therefore it is useful for characterizing the local lattice distortions around specific elements. We have applied XFH to dopants and mixed crystals. We found interesting features in local lattice distortions, such as the displacements of first-neighbor atoms around dopants, far-sighted views of the atomistic fluctuations in mixed crystals, and the coexistence of distorted/undistorted sites in the same material.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 195, August 2014, Pages 337-346
نویسندگان
, , ,