کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396052 1505740 2013 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application of hard X-ray photoelectron spectroscopy to electronic structure measurements for various functional materials
ترجمه فارسی عنوان
استفاده از طیف سنجی فوتوالکترهای اشعه ایکس سخت به اندازه گیری ساختار الکترونیکی برای مواد مختلف کاربردی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
► High-resolution hard X-ray photoemission has been developed at BL15XU of SPring-8. ► ZnO single crystal showed a polarity dependence on the valence band spectrum. ► Mn doped titania nanosheets showed the mixed-valence states for the doped Mn ions. ► The interface electronic structure of Pt/HfO2/Pt was studied under device operation. ► Bulk and interface valence band structures of MgO/Co2MnSi were similar each other.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 190, Part B, October 2013, Pages 235-241
نویسندگان
,