طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت

در این صفحه تعداد 56 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Lithium-ion battery; Surface structure; Electronic structure; Electrode-electrolyte interface; ABF; annular bright field; AFM; atomic force microscopy; AM; amplitude modulation; EC; ethylene carbonate; CVD; chemical vapor deposition; DEC; diethyl carbonat
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Photoemission; Imaging; PEEM; Time resolved; Spin resolved; ToF momentum microscope; Spin filter; 2PPE; two-photon photoemission; ARPES; angular resolved photoemission spectroscopy; BBO; beta-barium borate; BFP; backfocal plane; CCD; charge-coupled device
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Hard x-ray photoelectron spectroscopy; Electrical characterisation; X-ray photoelectron spectroscopy; Surface passivation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Electronic band line-up; Electrical properties; Functional multilayered structures; Non-volatile memory devices;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; 79.60.Jv; 71.20.Be; 73.20.−r; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Materials for energy; Bulk properties; Multilayers; Interface properties; Alloying; Electronic structure;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; HAXPES; Circular magnetic dichroism; Angular resolved photoelectron spectroscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Solid oxide fuel cells; Strontium doped lanthanum cobalt ferrite; Strontium surface segregation; Transmission electron microscope; Total reflection X-ray fluorescence; Hard X-ray photoelectron spectroscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Lithium 4,5-dicyano-2-(trifluoromethyl)imidazolide; Silicon negative electrode; Solid electrolyte interphase; Hard x-ray photoelectron spectroscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; 79.60.Jv; 71.20.Be; 73.20.−r; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Multifunctional materials; Multiferroics; Electronic structure; Density functional theory; Bismuth ferrite;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Heavy fermion; Valence fluctuation; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; Plasmon; Full multiplet; Single impurity model;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Sr-rich SrTiO3 thin layers; Ultra-thin interfacial layers; Nondestructive investigation techniques; Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy; Depth Resolved Soft X-ray Emission Spectroscopy; Soft X-ray Reflection Spectroscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس سخت; Inductively-coupled plasma; Low-inductance antenna; Plasma–polymer interactions; PMMA; Ar plasma; Low-damage process; Hard X-ray photoelectron spectroscopy; XPS