کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396068 | 1505748 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic and optical properties of hafnium indium zinc oxide thin film by XPS and REELS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Electronic and optical properties of hafnium indium zinc oxide thin film by XPS and REELS Electronic and optical properties of hafnium indium zinc oxide thin film by XPS and REELS](/preview/png/5396068.png)
چکیده انگلیسی
⺠XPS and REELS analysis can provide electronic and optical properties of materials. ⺠ZnO-based transparent conductive oxide thin films amply exhibit the usefulness of XPS and REELS analysis. ⺠REELS analysis shows the band gap increase from 3.0 eV to 3.5 eV as a result of adding Hf to InZnO.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issues 1â2, March 2012, Pages 18-22
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issues 1â2, March 2012, Pages 18-22
نویسندگان
Yus Rama Denny, Hye Chung Shin, Soonjoo Seo, Suhk Kun Oh, Hee Jae Kang, Dahlang Tahir, Sung Heo, Jae Gwan Chung, Jae Cheol Lee, Sven Tougaard,